- 簡要介紹 Malvern Panalytical 與 Micromeritics 所提供的分析儀器與相關解決方案
- 說明高解析 XRD 在磊晶薄膜樣品分析中的基本原理與常見應用
- 介紹 XRR 膜厚量測原理，以及樣品校正對量測結果的影響
- 說明 XRD 在各類薄膜樣品上的常見量測模式與應用案例
- 介紹高解析 XRD 與 XRR 的實際量測流程與實驗室配置
- 介紹使用 AMASS 進行薄膜樣品 XRD / XRR 數據解析的基本流程與判讀重點
Thin Film XRD(立地式 XRD & MRD & MRD XL) 使用者研討會 - Taiwan
關於活動
本次 XRD 使用者研討會 旨在提供廣泛的 XRD 應用與分析實務訓練，適用於使用 Empyrean 系列與 X’Pert³ 系列 等 Malvern Panalytical X射線衍射儀的實驗室與研究人員。 研討會內容涵蓋 高解析 XRD 在磊晶薄膜上的應用、XRR 膜厚分析、樣品校正、薄膜與材料結構量測，以及數據解析實務，結合理論與實務案例，協助使用者提升實驗操作技能與結果品質。 活動特色包括： • 由技術專家解析 XRD 量測與樣品準備要點 • 深入介紹材料結構與薄膜量測分析策略 • 示範 XRR 膜厚分析與 AMASS 等數據解析工具 • 實驗室示範與 Q&A 互動交流 本使用者研討會適合： • 使用 Empyrean Range 或 X’Pert³ Range XRD 儀器的使用者及工程師 • 需進行高解析度繞射、薄膜/磊晶/多層材料分析的研究人員 • 負責量測設定、數據解讀、報告撰寫或分析委外管理的實驗室實務者
課程內容
10:00–10:20
Malvern Panalytical 與 Micromeritics 解決方案概覽
10:20–11:10
高解析 XRD 在磊晶樣品上之應用
11:10–11:30
中場休息 & Q&A
11:30–12:20
XRR 膜厚分析及樣品校正
12:20–13:20
Lunch
13:20–14:10
XRD 在薄膜樣品上的其他常見量測應用
14:10–14:20
中場休息 & Q&A
14:20–14:50
實驗室參觀
14:50–15:00
中場休息 & Q&A
15:00–15:50
薄膜樣品量測數據解析（AMASS）
15:50–16:00
問卷填寫與活動結束
名額有限，即刻註冊報名！
活動地點
台灣思百吉 Malvern Panalytical (實驗室) 內湖區瑞光路411號5 樓
