- 簡要介紹 Malvern Panalytical 與 Micromeritics 所提供的分析儀器與整體解決方案
- 說明動態光散射（DLS）的基本原理，以及其在奈米顆粒粒徑分析中的應用方式
- 說明影響 DLS 數據品質的關鍵因素，以及實務操作上的注意事項
- 介紹電泳光散射（ELS）量測 Zeta 電位的基本原理與應用概念
- 說明提升 Zeta 電位量測數據穩定性與再現性的重點操作原則
關於活動
Malvern Panalytical 誠摯邀請 Zetasizer 使用者參加本次 於下午舉辦的實體使用者教育訓練課程。 本課程為 下午 1 點至 5 點 的半日課程，聚焦於 Zetasizer 系統中 動態光散射（DLS) 與電泳光散射（ELS） 的量測原理與實務應用，並說明如何在有限時間內有效提升量測品質與數據可信度。 課程內容以實際操作情境為導向，協助學員理解在粒徑與 Zeta 電位量測過程中 常見問題的判斷邏輯與改善方向，進一步強化 Zetasizer 在日常分析工作中的應用效益。 課程中安排 Q&A 時段，提供學員針對實際操作問題進行交流與討論的機會。 本活動名額有限，報名將於活動前一週截止，或於額滿時提前結束。
課程內容
13:00–13:20
Malvern Panalytical 與 Micromeritics 解決方案概覽
13:20–14:10
動態光散射（DLS）如何量測奈米顆粒的粒徑
14:10–14:30 中場休息 & Q&A
14:30–15:10
如何獲取高品質的 DLS 數據
15:10–15:20 中場休息 & Q&A
15:20–16:10
電泳光散射（ELS）如何量測顆粒的 Zeta 電位
16:10–16:20 中場休息 & Q&A
16:20–17:00
如何獲取高品質的 ELS 數據
17:00–17:10
問卷填寫與活動結束
名額有限，即刻註冊報名！
活動地點
台灣思百吉 Malvern Panalytical (實驗室) 內湖區瑞光路411號5 樓
