- 簡要介紹 Malvern Panalytical 與 Micromeritics 在奈米顆粒分析與材料表徵領域提供的分析儀器與整體解決方案
- 介紹 DLS 的基本測量原理與粒徑分析概念
- 說明 Zetasizer Advance 系列儀器的主要技術優勢
- MADLS (Multi-Angle Dynamic Light Scattering) 技術介紹
- Adaptive Correlation 技術如何提升量測準確性
- 介紹 NTA 的單顆粒追蹤分析原理與量測概念
- NanoSight Pro 系統功能與應用介紹
- 使用注射幫浦進行 Flow-based analysis
- 結合光散射與螢光分析以獲得更多資訊
- Low Volume Flow Cell (LVFC) 技術介紹
- 比較 DLS 與 NTA 的應用情境與技術特性
- 說明兩種技術在粒徑分佈與數據解讀上的差異
- 比較 DLS 與 NTA 的量測/統計結果報告
- 說明 DLS 與 NTA 在奈米顆粒表徵上的互補性
- 如何透過兩種技術結合,獲得更完整的奈米顆粒分析結果
- DLS 實際量測流程示範
- 粒徑測量與數據解讀說明
- NTA 即時顆粒追蹤量測示範
- 顆粒濃度與尺寸分佈分析說明
從理論到實務:DLS 與 NTA 的理解與應用 - Taiwan
關於活動
本次研討會將介紹兩種廣泛應用於奈米顆粒分析的技術:動態光散射 (DLS) 與 奈米顆粒追蹤分析 (NTA)。 參與者將了解兩種技術的基本原理,以及各自的粒徑測量方式與數據解讀方法。研討會將比較 DLS 與 NTA 在測量原理、統計數據分析以及應用領域上的差異,協助研究人員理解不同技術在數據分析上的特點,並選擇最適合其樣品特性的分析方法。 此外,本次活動也將說明如何結合 DLS 與 NTA 這兩種互補技術,以獲得更完整且可靠的奈米顆粒特性分析結果。 本研討會特別適合從事 奈米材料、膠體、脂質奈米顆粒 (LNP)、外泌體 (EV) 等奈米顆粒研究與分析的科研人員與技術人員。
主講人 (Speakers)
課程內容
10:00–10:20
Malvern Panalytical 與 Micromeritics 解決方案概覽
10:20–11:00
Introduction to Dynamic Light Scattering (DLS)
11:00–11:10 中場休息 & Q&A
11:10–11:50
Introduction to Nanoparticle Tracking Analysis (NTA)
11:50–13:00 Break & Lunch
13:00–13:50
NTA or DLS – which is better for you?
13:50–14:00 中場休息 & Q&A
14:00–14:50
Synergy of Complementary Nanomaterial Characterization Techniques
14:50–15:00 中場休息 & Q&A
15:00–15:30
Zetasizer Live Demo & Demo Discussion
15:30–15:40 中場休息 & Q&A
15:40–16:10
NanoSight Pro Live Demo & Demo Discussion
16:10–16:20
問卷填寫與活動結束
名額有限,即刻註冊報名!
活動地點
台灣思百吉 Malvern Panalytical (實驗室) 內湖區瑞光路411號5 樓