X線技術の基礎 (XRDとXRF)

このウェビナーでは、X線回折と蛍光X線分析の基礎について発表します。

X線回折法(XRD) は汎用性の高い非破壊分析手法であり、粉末サンプル、固体サンプル、液体サンプルの相組成、結晶構造、配向などの物性を分析するために使用します。X線回折分析の特長と原理、Θ-2Θスキャン、ブラッグ・ブレンターノ光学系、XRDプロファイルの基本情報など基礎的な内容となっています。

蛍光X線分析は、、測定サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線（波長：λやエネルギー：KeV）を測定することで構成されている元素を同定（組成分析）し、その構成される元素の含有量を分析（定量分析）可能な分析技術です。 ウェビナーではその特長や原理について説明します。

• 「学生時代以来の分析装置、使いこなせるかな？」
• 「基礎や原理からしっかり学びたい！」
• 「久しぶりにXRDやXRFを使うから、基礎から復習したい！」

このような方に最適なウェビナーとなっています。企業の方も研究機関の方も、学生の方もぜひ、お申込みください。