- 如何透過樣品製備
- 實驗設定以及數據分析
- 獲取更精準的材料特性
- 從超高速倒異空間圖譜(URSM)進行磊晶薄膜分析
- 到小角度 X 光散射（SAXS)進行奈米材料分析
- 世界第一的全自動智慧多功能高解析X光繞射儀 Empyrean
- 實機展示
- 電池電極材料、藥物溶解以及 3D 列印中粉末流動性的應用
- 全球最受歡迎的雷射粒徑分析儀 Mastersizer 3000
- 實機展示
- 應用分享
- 數據分析
- 提升數據品質的實用技巧
- 現場演示
Advanced materials characterisation
新穎材料分析研討會
112 年 11 月 15 日 (三) | 9:00 - 16:00 | 台灣新竹
免費參加
关于活动
X光繞射 (X-ray diffraction, XRD) 是材料分析的重要方法之一，本次研討會將涵蓋X 光繞射儀之最新量測技術以及相關產業應用，並深入討論如何透過樣品製備以及參數設定等實用技巧獲取更佳的數據品質及分析結果。此外，演講嘉賓也將分享各種提升研發速度及製造品質的分析技術，包含自動化量測系統、超高速倒異空間圖譜(URSM) 及小角散射 (SAXS) 等，應用範圍涵蓋塊材、單晶、磊晶薄膜及奈米材料。本次研討會由工研院材化所與Malvern Panalytical (台灣思百吉股份有限公司) 共同合辦，希望能提供與會者更多先進的材料分析技術，並能最大化使用工研院材化所具備的多項尖端材料檢測設備 (包括高解析X光繞射儀Empyrean)，藉此加速並優化您的研究。
節目
時間 |
活動主題 |
演講者 |
08:40 |
Registration |
|
09:00 |
歡迎致詞 |
工研院材化所 羅聖全 副組長 |
09:05 |
透過自動化XRD 檢測技術實現全方位的材料特性研究 |
Malvern Panalytical 李秉中博士 |
09:55 |
Tea Break |
|
10:05 |
使用高解析XRD 進行先進材料特性分析： |
Malvern Panalytical 李秉中博士 |
10:45 |
Tea Break |
|
10:55 |
微結構與特性分析研究室技術能量簡介 |
工研院材化所 朱仁佑 經理 |
11:05 |
表面物性與線上影像分析技術介紹 |
高豐生 博士 |
11:20 |
光譜檢測技術介紹 |
江叡涵 博士 |
11:35 |
X-ray相關檢測技術介紹 |
游秩群 博士 |
11:50 |
Q & A |
|
12:00 |
午餐 |
|
13:10 |
實機展示 Empyrean |
Malvern Panalytical 李秉中博士 |
14:00 |
粒徑分析與材料特性的相關性 |
Malvern Panalytical 齊慕恒 博士 |
15:00 |
Q & A |
重點
精彩活动不容错过，即刻注册报名！
facebook twitterrssinstagramlinkedinyoutube