- 15 a 17 de Outubro de 2024
- 8:30h às 17:30h
- Proporcionar aos profissionais envolvidos com técnicas de análise instrumental, uma visão da Difratometria de Raios X.
- Promover a atualização de conhecimentos e apresentar os mais recentes desenvolvimentos instrumentais.
- Discutir e apresentar aplicações das técnicas analíticas em diversos setores das indústrias e acadêmicas.
- Revisão Difração de Raios X
- Difratometria de raios X: equipamentos e aplicações
- Introdução à cristalografia e à difratometria
- Cela unitária, sistemas cristalinos, retículos de Bravais, índices de Miller, simetria
- O método do pó
- Apresentação do difratômetro
- Configurações do equipamento
- Preparação de amostras
- Informações contidas no difratograma: Posições dos picos, intensidades relativas e perfil dos picos
- Visão panorâmica do software HighScore Plus.
- Funções de tratamento dos difratogramas
- Fichas e bancos de dados
- Funções de busca de fases
- Funções de análise cristalográfica
- Funções de análise de clusters
- Princípios do Refinamento pelo Método de Rietveld
- Trabalhos com exemplos de refinamentos
- Difratometria de raios X: Análise Qualitativa
- Avaliação de características importantes no difratograma destinados ao refinamento
- Rotinas de determinação de background e busca de picos
- Refinamento de perfil
- Uso de bancos de dados de fichas cristalográficas
- Uso de restrições para otimização da busca
- Rotinas de buscas
- Prática de Análise Qualitativa em difratogramas
- Discussão sobre identificação de fases
- Difratometria de raios X: Análise Quantitativa
- Refinamento de perfil completo pelo Método de Rietveld
- Parâmetros refináveis e impacto no perfil calculado
- Sequência de refinamento
- Rotinas de refinamento automatizadas e manuais
- Comparação do perfil calculado e experimental
- Índices de concordância
- Validação de resultados
- Prática de Análise Quantitativa de fases
- Discussão sobre quantificação de fases e resultados de refinamento
- Continuação Prática e Discussão de Análise Quantitativa de fases
- Prática Laboratório de Aplicação Malvern Panalytical
- Análise Qualitativa e Refinamento pelo Método de Rietveld com exemplos trazidos pelos alunos
Curso Avançado de XRD e Preparação de amostras
15 a 17 de Outubro de 2024 | 8:30h-17:30h Brasil | São Paulo
Sobre o curso
Curso Avançado de Difração de Raios X e Preparação de Amostras. O Curso Avançado é voltado para usuários do software HIGHSCORE PLUS e fornece informações sobre a técnica analítica da Difração de Raios X, com ênfase em procedimentos de tratamento de dados voltados para análise qualitativa (identificação de fases) e refinamento pelo método de Rietveld. O foco do refinamento pelo método de Rietveld é a quantificação de fases mas também será abordado o refinamento e obtenção de parâmetros de microestrutura, assim como metodologias de refinamento. Além do conteúdo teórico, o curso proporciona aos participantes o contato e uso da última versão do software (HighScore Plus) para fixação dos conhecimentos e vivência das aplicações.
Quando e Onde
Data
Local
O curso será realizado nas dependências da Malvern Panalytical, Rua Luís Correia de Melo, 92 - 25º andar – Sala São Paulo -São Paulo/ SP .
Informações
Objetivos
Programação
1º dia - das 8h30 às 17h30
2º dia, das 8h30 às 17h30
3º dia, das 8h30 às 17h30
A carga horária do curso é de 24h.
* Poderá haver alterações na programação sem aviso prévio.
* É recomendável que o participante tenha já feito o nosso curso básico e/ou já tenha o conhecimento básico da técnica de Difratometria de Raios X para um melhor aproveitamento do curso.
Não perca - reserve o seu lugar
Informações adicionais, valores, programação completa do curso, bem como a ficha de inscrição deverão ser solicitados por e-mail informando o seu curso de interesse para o contato abaixo.
Contato: Camila Iunes Tel.: 11 5188 8184 ou pelo email: camila.iunes@malvernpanalytical.com .
As vagas são limitadas e serão preenchidas por ordem de recebimento das fichas de inscrição.