Curso Avançado de XRD e Preparação de amostras

Data

• 15 a 17 de Outubro de 2024
• 8:30h às 17:30h

Local

O curso será realizado nas dependências da Malvern Panalytical, Rua Luís Correia de Melo, 92 - 25º andar – Sala São Paulo -São Paulo/ SP .

Objetivos

• Proporcionar aos profissionais envolvidos com técnicas de análise instrumental, uma visão da Difratometria de Raios X.
• Promover a atualização de conhecimentos e apresentar os mais recentes desenvolvimentos instrumentais. 
• Discutir e apresentar aplicações das técnicas analíticas em diversos setores das indústrias e acadêmicas.

Programação

1º dia - das 8h30 às 17h30 

• Revisão Difração de Raios X
  • Difratometria de raios X: equipamentos e aplicações
  • Introdução à cristalografia e à difratometria
  • Cela unitária, sistemas cristalinos, retículos de Bravais, índices de Miller, simetria
  • O método do pó
• Apresentação do difratômetro
• Configurações do equipamento
• Preparação de amostras
• Informações contidas no difratograma: Posições dos picos, intensidades relativas e perfil dos picos
• Visão panorâmica do software HighScore Plus.
  • Funções de tratamento dos difratogramas
  • Fichas e bancos de dados
  • Funções de busca de fases
  • Funções de análise cristalográfica
  • Funções de análise de clusters
• Princípios do Refinamento pelo Método de Rietveld 
• Trabalhos com exemplos de refinamentos

2º dia, das 8h30 às 17h30

• Difratometria de raios X: Análise Qualitativa
  • Avaliação de características importantes no difratograma destinados ao refinamento
  • Rotinas de determinação de background e busca de picos
  • Refinamento de perfil
  • Uso de bancos de dados de fichas cristalográficas

• Uso de restrições para otimização da busca
  • Rotinas de buscas
• Prática de Análise Qualitativa em difratogramas
• Discussão sobre identificação de fases
• Difratometria de raios X: Análise Quantitativa
  • Refinamento de perfil completo pelo Método de Rietveld
  • Parâmetros refináveis e impacto no perfil calculado
  • Sequência de refinamento
  • Rotinas de refinamento automatizadas e manuais
  • Comparação do perfil calculado e experimental
  • Índices de concordância
  • Validação de resultados
• Prática de Análise Quantitativa de fases
• Discussão sobre quantificação de fases e resultados de refinamento

3º dia, das 8h30 às 17h30

• Continuação Prática e Discussão de Análise Quantitativa de fases
• Prática Laboratório de Aplicação Malvern Panalytical
• Análise Qualitativa e Refinamento pelo Método de Rietveld com exemplos trazidos pelos alunos

A carga horária do curso é de 24h.

* Poderá haver alterações na programação sem aviso prévio.

* É recomendável que o participante tenha já feito o nosso curso básico e/ou já tenha o conhecimento básico da técnica de Difratometria de Raios X para um melhor aproveitamento do curso.