- 23 a 25 de Abril de 2024
- 8:30h às 17:30h
- Proporcionar aos profissionais envolvidos com técnicas de análise instrumental, uma visão da Difratometria de Raios X.
- Promover a atualização de conhecimentos e apresentar os mais recentes desenvolvimentos instrumentais.
- Discutir e apresentar aplicações das técnicas analíticas em diversos setores das indústrias e acadêmicas.
- Difratometria de raios X: equipamentos e aplicações
- Introdução à cristalografia e à difratometria
- O estado sólido
- O que são cristais?
- Cristais versus vidros
- Por que as substâncias se cristalizam?
- Simetria (elementos, operações)
- Cela unitária, sistemas cristalinos, retículos de Bravais, índices de Miller
- Estrutura cristalina versus retículo cristalino
- Tipos de análises e de amostras
- O método do pó
- Apresentação do difratômetro
- Configurações do equipamento
- Preparação de amostras
- Informações contidas no difratograma: Posições dos picos, intensidades relativas e perfil dos picos
- Técnicas difratométricas comuns acessíveis a difratômetros laboratoriais
- Instalação do High Score Plus e visão panorâmica do programa.
- Difratometria de raios X: análise qualitativa
- Difração de raios X
- Equações de Laue e de Bragg
- Interpretação de difratogramas
- Bancos de dados
- Search-match: as bases do método Hanawalt (interpretação manual com fichas)
- Configurações instrumentais para análise qualitativa
- Prática de "search-match" em difratogramas
- Discussão final sobre identificação de fases
- Difratometria de raios X: análise quantitativa
- Aula teórica sobre método de Rietveld
- Demonstração do HighScore Plus
- Influência da configuração instrumental na análise quantitativa
- Influência de características da amostra na análise quantitativa
- Prática de Rietveld com HighScore Plus
Curso de XRD e Preparação de amostras
23 a 25 de Abril de 2024 | 8:30h-17:30h Brasil | São Paulo
Sobre o curso
Curso de Difração de Raios X Básico e Preparação de Amostras. O curso é voltado para usuários do software HIGH SCORE PLUS e fornece informações sobre a técnica analítica da Difratometria de Raios X, com ênfase nos detalhes da rotina operacional e na obtenção de resultados de boa qualidade. Seus campos de aplicação, potencialidade, versatilidade, uso adequado e avanços recentes em equipamentos também são abordados. Além do conteúdo teórico, o curso propicia aos participantes o contato e uso da última versão do software (High Score Plus) para fixação dos conhecimentos e vivência das aplicações.
Quando e Onde
Data
Local
O curso será realizado nas dependências da Malvern Panalytical, Rua Luís Correia de Melo, 92 - 25º andar – Sala São Paulo -São Paulo/ SP .
Informações
Objetivos
Programação
1º dia - 8h30 às 17h30
2º dia - 8h30 às 17h30
3º dia - 8h30 às 17h30
A carga horária do curso é de 24h.
* Poderá haver alterações na programação sem prévio aviso.
Não perca - reserve o seu lugar
Informações adicionais, valores, programação completa do curso, bem como a ficha de inscrição deverão ser solicitados por e-mail informando o seu curso de interesse para o contato abaixo.
Contato: Camila Iunes Tel.: 11 5188 8184 ou pelo email: camila.iunes@malvernpanalytical.com .
As vagas são limitadas e serão preenchidas por ordem de recebimento das fichas de inscrição.
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