オンデマンド配信について

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配信一覧

2025年6月19日配信 X線技術の基礎（XRDとXRF)

このウェビナーでは、X線回折と蛍光X線分析の基礎について発表します。

X線回折法(XRD) は汎用性の高い非破壊分析手法であり、粉末サンプル、固体サンプル、液体サンプルの相組成、結晶構造、配向などの物性を分析するために使用します。X線回折分析の特長と原理、Θ-2Θスキャン、ブラッグ・ブレンターノ光学系、XRDプロファイルの基本情報など基礎的な内容となっています。

蛍光X線分析は、、測定サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線（波長：λやエネルギー：KeV）を測定することで構成されている元素を同定（組成分析）し、その構成される元素の含有量を分析（定量分析）可能な分析技術です。 ウェビナーではその特長や原理について説明します。

2022年2月配信　今までにないS/N比を実現！最新技術を用いた究極の高感度 粉末XRDデータ測定方法

2022年に発売された新型検出器１Derのご紹介です。従来の半導体検出器から更に進化した半導体1次検出器。１Derを使った場合の測定事例などをご紹介します。

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多目的X線回折装置 Empyrean

Empyrean MultiCoreシステムは全ての測定において、光学系の交換と調整を不要としました。

目的とする測定は登録されたプログラムを選ぶだけで、MultiCoreモジュール(iCore, dCore)内で必要なスリット、コリメータ類は全て自動交換されます。ユーザーは必要な試料をサンプルチェンジャーにセットしてプログラムを選ぶだけです。

高感度半導体1次元検出器 1Der

コンパクトX線回折装置 Aeris

Aerisは、組み込みタッチスクリーンと直感的なソフトウェアにより、だれでもこの装置を簡便に使用することができるほか、出力したデータは床置き型のX線回折装置と共通の解析ソフトウェア High Score上で,化合物の同定、定量、結晶化度、結晶子サイズ解析及びリートベルト法による結晶相の定量、結晶構造解析等、多様かつ詳細なデータ解析ができるようになっています。